Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 4 van 17 gevonden artikelen
 
 
  Characterization of strain relaxation of (0 0 1) oriented SrTiO3 thin films grown on LaAIO3 (1 1 0) by means of reciprocal space mapping using x-ray diffraction
 
 
Titel: Characterization of strain relaxation of (0 0 1) oriented SrTiO3 thin films grown on LaAIO3 (1 1 0) by means of reciprocal space mapping using x-ray diffraction
Auteur: Edvardsson, C. N. L.
Birch, J.
Helmersson, U.
Verschenen in: Journal of materials science. Materials in electronics
Paginering: Jaargang 10 (1999) nr. 3 pagina's 203-208
Jaar: 1999
Inhoud:
Uitgever: Kluwer Academic Publishers, Boston
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 4 van 17 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland