|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
Study of the lattice strain relaxation in the \hbox{Ga}_{1-X}\hbox{Al}_{X}\hbox{Sb/GaSb} system by x-ray topography and high resolution diffraction |
| Auteur: |
C. Bocchi F. Germini S. Franchi A. Baraldi S. Gennari R. Magnanini A. V. Drigo |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 10 (1999) nr. 3 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1999-05 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 17 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |