|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Microstructural change and interfacial reactions of Pt/Ti thin films on SiNx/Si during annealing in various ambients |
| Auteur: |
Kim, Dong-Chan Lee, Tae Gon Kim, Young-Ho |
| Verschenen in: |
Journal of materials science. Materials in electronics |
| Paginering: | Jaargang 10 (1999) nr. 2 pagina's 85-95 |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |