|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 22 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
In-situ scanning transmission electron microscopy study of Al-amorphous SiO2 layer-SiC interface |
| Auteur: |
Adabifiroozjaei, Esmaeil Rastkerdar, Ebad Nemoto, Yoshihiro Nakayama, Yoshiko Nishimiya, Yuki Fronzi, Marco Yao, Yin Nguyen, Minh Triet Molina-Luna, Leopoldo Suzuki, Tohru S. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science |
| Paginering: | Jaargang 58 () nr. 6 pagina's 2456-2468 |
| Jaar: |
2023-01-23 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 22 van 35 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |