|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Depth profile analysis of oxidized nuclear graphite microstructures using micro-focused synchrotron X-ray diffraction |
| Auteur: |
Huang, Qing Li, Rong-Cheng Li, Cheng Huang, He-Fei Zhou, Xing-Tai |
| Verschenen in: |
Journal of materials science |
| Paginering: | Jaargang 57 () nr. 11 pagina's 6320-6334 |
| Jaar: |
2022-03-08 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |