|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 62 gevonden artikelen
| Titel: |
In situ X-ray measurements over large Q-space to study the evolution of oxide thin films prepared by RF sputter deposition |
| Auteur: |
Walter, P. Wernecke, J. Scholz, M. Reuther, D. Rothkirch, A. Haas, D. Blume, J. Resta, A. Vlad, A. Faley, O. Schipmann, S. Nent, A. Seeck, O. Dippel, A.-C. Klemradt, U. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science |
| Paginering: | Jaargang 56 () nr. 1 pagina's 290-304 |
| Jaar: |
2020-09-25 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 62 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |