|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
Accurate measurement of thickness of large-area graphene layers by neutron reflectometry |
| Auteur: |
Jang, Young Rae Kim, Ki Yeon Yoo, Keon Ho |
| Verschenen in: |
Journal of materials science |
| Paginering: | Jaargang 51 (2016) nr. 22 pagina's 10059-10065 |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 32 gevonden artikelen
| volgende >> |