|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 30 van 50 gevonden artikelen
| Titel: |
On the pressing need to address beam–sample interactions in atomic resolution electron microscopy |
| Auteur: |
Kisielowski, Christian |
| Verschenen in: |
Journal of materials science |
| Paginering: | Jaargang 51 (2015) nr. 2 pagina's 635-639 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 30 van 50 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |