|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 33 van 47 gevonden artikelen
| Titel: |
Quantitative correlation of interfacial contamination and antiphase domain boundary density in GaAs on Si(100) |
| Auteur: |
Barrett, C. S. C. Lind, A. G. Bao, X. Ye, Z. Ban, K. Y. Martin, P. Sanchez, E. Xin, Y. Jones, K. S. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science |
| Paginering: | Jaargang 51 (2015) nr. 1 pagina's 449-456 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 33 van 47 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |