|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 33 van 50 gevonden artikelen
| Titel: |
Reassessment of degradation mechanisms in anodic tantalum oxide capacitors under high electric fields |
| Auteur: |
Su, Xin Viste, Mark Hossick-Schott, Joachim Yang, Lei Sheldon, Brian W. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science |
| Paginering: | Jaargang 50 (2014) nr. 2 pagina's 960-969 |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 33 van 50 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |