|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 29 van 50 gevonden artikelen
| Titel: |
Performing elemental microanalysis with high accuracy and high precision by scanning electron microscopy/silicon drift detector energy-dispersive X-ray spectrometry (SEM/SDD-EDS) |
| Auteur: |
Newbury, Dale E. Ritchie, Nicholas W. M. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science |
| Paginering: | Jaargang 50 (2014) nr. 2 pagina's 493-518 |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 29 van 50 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |