|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
Experimental measurement of the effect of copper through-silicon via diameter on stress buildup using synchrotron-based X-ray source |
| Auteur: |
Okoro, Chukwudi Levine, Lyle E. Xu, Ruqing Obeng, Yaw |
| Verschenen in: |
Journal of materials science |
| Paginering: | Jaargang 50 (2015) nr. 18 pagina's 6236-6244 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |