|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
How to best measure atomic segregation to grain boundaries by analytical transmission electron microscopy |
| Auteur: |
Walther, T. Hopkinson, M. Daneu, N. Recnik, A. Ohno, Y. Inoue, K. Yonenaga, I. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science |
| Paginering: | Jaargang 49 (2013) nr. 11 pagina's 3898-3908 |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |