|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
Lattice resolved annular dark-field scanning transmission electron microscopy of (Al, In)GaN/GaN layers for measuring segregation with sub-monolayer precision |
| Auteur: |
Walther, T. Amari, H. Ross, I. M. Wang, T. Cullis, A. G. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science |
| Paginering: | Jaargang 48 (2012) nr. 7 pagina's 2883-2892 |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |