|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 56 gevonden artikelen
| Titel: |
Compositional characterization of nickel silicides by HAADF-STEM imaging |
| Auteur: |
Verleysen, E. Bender, H. Richard, O. Schryvers, D. Vandervorst, W. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science |
| Paginering: | Jaargang 46 (2011) nr. 7 pagina's 2001-2008 |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 56 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |