|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 51 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of an AlN buffer layer and a thick-GaN layer grown on sapphire substrate by MOCVD |
| Auteur: |
Çörekçi, S. Öztürk, M. K. Bengi, A. Çakmak, M. Özçelik, S. Özbay, E. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science |
| Paginering: | Jaargang 46 (2010) nr. 6 pagina's 1606-1612 |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 51 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |