|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 27 van 38 gevonden artikelen
| Titel: |
Nanometer scale crystallographic texture mapping of platinum and lead zirconate titanate thin films by electron backscatter diffraction |
| Auteur: |
Fox, G. R. Han, X. Maitland, T. M. Vaudin, M. D. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science |
| Paginering: | Jaargang 45 (2010) nr. 11 pagina's 2991-2994 |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 27 van 38 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |