|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 39 gevonden artikelen
| Titel: |
Electron microscope weak-beam imaging of stacking fault tetrahedra: observations and simulations |
| Auteur: |
Jenkins, M. L. Zhou, Z. Dudarev, S. L. Sutton, A. P. Kirk, M. A. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science |
| Paginering: | Jaargang 41 (2006) nr. 14 pagina's 4445-4453 |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 39 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |