|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 27 van 46 gevonden artikelen
| Titel: |
Micro-Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of atomic-layer-deposited ZrO2 and HfO2 thin films |
| Auteur: |
Tkachev, S. N. Manghnani, M. H. Niilisk, A. Aarik, J. Mändar, H. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science |
| Paginering: | Jaargang 40 (2005) nr. 16 pagina's 4293-4298 |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 27 van 46 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |