|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 72 van 72 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray diffraction analysis of the defect structure in AlxGa1 − xN films grown by metalorganic chemical vapor deposition |
| Auteur: |
Y. S. Park K. H. Kim J. J. Lee H. S. Kim T. W. Kang H. X. Jiang J. Y. Lin |
| Verschenen in: |
Journal of materials science |
| Paginering: | Jaargang 39 (2004) nr. 5 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
2004-0301-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 72 van 72 gevonden artikelen
| << vorige |