|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 51 van 72 gevonden artikelen
| Titel: |
Simple transmission ellipsometry method for measuring the electric-field-induced birefringence in PLZT thin films |
| Auteur: |
J. Wang D. Y. Wang F. Li X. G. Tang H. L. W. Chan D. Mo C. L. Choy |
| Verschenen in: |
Journal of materials science |
| Paginering: | Jaargang 39 (2004) nr. 5 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
2004-0301-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 51 van 72 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |