|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 41 gevonden artikelen
| Titel: |
Contributions of the environmental scanning electron microscope and X-ray diffraction in investigating the structural evolution of a SiO2 aggregate attacked by alkali-silica reaction |
| Auteur: |
J. Verstraete L. Khouchaf M. H. Tuilier |
| Verschenen in: |
Journal of materials science |
| Paginering: | Jaargang 39 (2004) nr. 20 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2004-1015-15 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 41 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |