|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
Surface analysis of softened paper by time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) and the Kawabata evaluation system |
| Auteur: |
M. Parfitt J. C. Vickerman R. Mitchell C. M. Carr N. Ince P. Knight |
| Verschenen in: |
Journal of materials science |
| Paginering: | Jaargang 38 (2003) nr. 10 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2003-0515-15 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |