|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 36 gevonden artikelen
| Titel: |
Accuracy of energy dispersive x-ray composition analysis of YBCO films on yttrium-containing substrates as compared to Rutherford backscattering spectroscopy |
| Auteur: |
Mustapha, Z. Chan, Siu-Wai Lam, A. Gerhardt, R. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science |
| Paginering: | Jaargang 35 (2000) nr. 2 pagina's 443-448 |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 36 gevonden artikelen
| volgende >> |