|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 29 gevonden artikelen
| Titel: |
Microstructural characterization of γ-TiAl base alloy by electron probe x-ray microanalysis and electron backscatter diffraction |
| Auteur: |
Levin, L. Tokar, A. Berner, A. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science |
| Paginering: | Jaargang 35 (2000) nr. 15 pagina's 3923-3929 |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Dordrecht |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 29 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |