|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
Measurements of thermal diffusivity of boron-silicon film-on-glass structure using phase detection method of photothermal deflection spectroscopy |
| Auteur: |
B. X. Shi C. W. Ong K. L. Tam |
| Verschenen in: |
Journal of materials science |
| Paginering: | Jaargang 34 (1999) nr. 21 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1999-1101-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 35 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |