|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
An STM and atomic force microscopy study of the effects of 1.8 MeV electron bombardment on the surface of graphite |
| Auteur: |
Y. J. CHEN I. H. WILSON J. B. XU LIN LIBIN |
| Verschenen in: |
Journal of materials science |
| Paginering: | Jaargang 33 (1998) nr. 18 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
1998-09 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 23 gevonden artikelen
| volgende >> |