|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 39 van 80 gevonden artikelen
| Titel: |
High-resolution transmission electron microscopy investigation of a stacking fault in β-Si3N4 |
| Auteur: |
NING, X. G WILKINSON, D. S WEATHERLY, G. C YE, H. Q |
| Verschenen in: |
Journal of materials science |
| Paginering: | Jaargang 32 (1997) nr. 6 pagina's 1431-1436 |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers-Plenum Publishers, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 39 van 80 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |