|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 70 gevonden artikelen
| Titel: |
An XPS and thermogravimetric study of oxidized AlN and AlN–Si3N4 layers deposited by liquid-phase chemical vapour deposition |
| Auteur: |
PERREM, R HENRY, F PERAUDEAU, G ARMAS, B BERJOAN, R BECHE, E |
| Verschenen in: |
Journal of materials science |
| Paginering: | Jaargang 32 (1997) nr. 5 pagina's 1305-1312 |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers-Plenum Publishers, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 70 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |