|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 23 van 84 gevonden artikelen
| Titel: |
Effect of thermal annealing on the microstructure of ytterbium-implanted silicon wafers |
| Auteur: |
Yang, Y. Chen, H. Zhou, Y. Q. Li, F. H. |
| Verschenen in: |
Journal of materials science |
| Paginering: | Jaargang 32 (1997) nr. 24 pagina's 6665-6670 |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers-Plenum Publishers, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 23 van 84 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |