|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 39 gevonden artikelen
| Titel: |
Extended X-ray absorption fine structure (EXAFS) study of secondary phases in Yb2O3-doped Si3N4 ceramics |
| Auteur: |
P KIZLER H. J KLEEBE F ALDINGER M RUHLE |
| Verschenen in: |
Journal of materials science |
| Paginering: | Jaargang 32 (1997) nr. 2 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Chapman and Hall |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 39 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |