|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Integrated circuit probe card troubleshooting based on rough set theory for advanced quality control and an empirical study |
| Auteur: |
Chien, Chen-Fu Wu, Hsin-Jung |
| Verschenen in: |
Journal of intelligent manufacturing |
| Paginering: | Jaargang 35 () nr. 1 pagina's 275-287 |
| Jaar: |
2022-11-03 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |