|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Improving automated visual fault inspection for semiconductor manufacturing using a hybrid multistage system of deep neural networks |
| Auteur: |
Schlosser, Tobias Friedrich, Michael Beuth, Frederik Kowerko, Danny |
| Verschenen in: |
Journal of intelligent manufacturing |
| Paginering: | Jaargang 33 () nr. 4 pagina's 1099-1123 |
| Jaar: |
2022-01-25 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |