Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 12 van 18 gevonden artikelen
 
 
  Ensemble convolutional neural networks with weighted majority for wafer bin map pattern classification
 
 
Titel: Ensemble convolutional neural networks with weighted majority for wafer bin map pattern classification
Auteur: Hsu, Chia-Yu
Chien, Ju-Chien
Verschenen in: Journal of intelligent manufacturing
Paginering: Jaargang 33 () nr. 3 pagina's 831-844
Jaar: 2020-10-17
Inhoud:
Uitgever: Springer US, New York
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 12 van 18 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland