|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Automated detection of defects with low semantic information in X-ray images based on deep learning |
| Auteur: |
Du, Wangzhe Shen, Hongyao Fu, Jianzhong Zhang, Ge Shi, Xuanke He, Quan |
| Verschenen in: |
Journal of intelligent manufacturing |
| Paginering: | Jaargang 32 () nr. 1 pagina's 141-156 |
| Jaar: |
2020-03-27 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |