|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
Wafer map defect pattern classification based on convolutional neural network features and error-correcting output codes |
| Auteur: |
Jin, Cheng Hao Kim, Hyun-Jin Piao, Yongjun Li, Meijing Piao, Minghao |
| Verschenen in: |
Journal of intelligent manufacturing |
| Paginering: | Jaargang 31 () nr. 8 pagina's 1861-1875 |
| Jaar: |
2020-02-04 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 17 gevonden artikelen
| << vorige |