Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 4 van 16 gevonden artikelen
 
 
  Effective automatic defect classification process based on CNN with stacking ensemble model for TFT-LCD panel
 
 
Titel: Effective automatic defect classification process based on CNN with stacking ensemble model for TFT-LCD panel
Auteur: Kim, Myeongso
Lee, Minyoung
An, Minjeong
Lee, Hongchul
Verschenen in: Journal of intelligent manufacturing
Paginering: Jaargang 31 () nr. 5 pagina's 1165-1174
Jaar: 2019-10-30
Inhoud:
Uitgever: Springer US, New York
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 4 van 16 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland