|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
Applying the support vector machine with optimal parameter design into an automatic inspection system for classifying micro-defects on surfaces of light-emitting diode chips |
| Auteur: |
Kuo, Chung-Feng Jeffrey Tung, Chun-Ping Weng, Wei-Han |
| Verschenen in: |
Journal of intelligent manufacturing |
| Paginering: | Jaargang 30 (2016) nr. 2 pagina's 727-741 |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 34 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |