|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Fault isolation by test scheduling for embedded systems using a probabilistic approach |
| Auteur: |
Aït-Kadi, Daoud Simeu-Abazi, Zineb Arous, Ahmed |
| Verschenen in: |
Journal of intelligent manufacturing |
| Paginering: | Jaargang 29 (2015) nr. 3 pagina's 641-649 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |