Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 18 van 29 gevonden artikelen
 
 
  Integrated data envelopment analysis and neural network model for forecasting performance of wafer fabrication operations
 
 
Titel: Integrated data envelopment analysis and neural network model for forecasting performance of wafer fabrication operations
Auteur: Hsu, Chia-Yu
Verschenen in: Journal of intelligent manufacturing
Paginering: Jaargang 25 (2013) nr. 5 pagina's 945-960
Jaar: 2013
Inhoud:
Uitgever: Springer US, Boston
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 18 van 29 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland