|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Wafer defect inspection by neural analysis of region features |
| Auteur: |
Chang, Chuan-Yu Li, Chun-Hsi Chang, Yung-Chi Jeng, MuDer |
| Verschenen in: |
Journal of intelligent manufacturing |
| Paginering: | Jaargang 22 (2009) nr. 6 pagina's 953-964 |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |