|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 7 gevonden artikelen
| Titel: |
Tool condition monitoring using reflectance of chip surface and neural network |
| Auteur: |
Yeo, S. H. Khoo, L. P. Neo, S. S. |
| Verschenen in: |
Journal of intelligent manufacturing |
| Paginering: | Jaargang 11 (2000) nr. 6 pagina's 507-514 |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 7 gevonden artikelen
| << vorige |