|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 11 gevonden artikelen
| Titel: |
A Survey and Recent Advances: Machine Intelligence in Electronic Testing |
| Auteur: |
Roy, Soham Millican, Spencer K. Agrawal, Vishwani D. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 40 () nr. 2 pagina's 139-158 |
| Jaar: |
2024-04-15 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 11 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |