|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Failure Probability due to Radiation-Induced Effects in FinFET SRAM Cells under Process Variations |
| Auteur: |
Champac, Victor Villacorta, Hector Gomez-Fuentes, R. Vargas, Fabian Segura, Jaume |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 40 () nr. 1 pagina's 75-86 |
| Jaar: |
2024-02-27 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |