|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 11 gevonden artikelen
| Titel: |
Design of Power Gated SRAM Cell for Reducing the NBTI Effect and Leakage Power Dissipation During the Hold Operation |
| Auteur: |
Bhattacharjee, Abhishek Nag, Abhishek Das, Kaushik Pradhan, Sambhu Nath |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 38 () nr. 1 pagina's 91-105 |
| Jaar: |
2022-04-04 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 11 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |