|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 11 gevonden artikelen
| Titel: |
Total Ionizing Dose Effect and Single Event Burnout of VDMOS with Different Inter Layer Dielectric and Passivation |
| Auteur: |
Mo, Jiongjiong Chen, Hua Wang, Liping Yu, Faxin |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 33 (2017) nr. 2 pagina's 255-259 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 11 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |