|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
A Power Efficient Test Data Compression Method for SoC using Alternating Statistical Run-Length Coding |
| Auteur: |
Yuan, Haiying Guo, Kun Sun, Xun Ju, Zijian |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 32 (2016) nr. 1 pagina's 59-68 |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 13 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |