|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Simulation and Experimental Evaluation of a Soft Error Tolerant Layout for SRAM 6T Bitcell in 65nm Technology |
| Auteur: |
Li, Lixiang Li, Yuanqing Wang, Haibin Liu, Rui Wu, Qiong Newton, Michael Ma, Yuan Chen, Li |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 31 (2015) nr. 5-6 pagina's 561-568 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 13 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |