|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Impact of Total Ionizing Dose on Bulk Built-In Current Sensors with Dynamic Storage Cell |
| Auteur: |
Simionovski, Alexandre Vaz, Rafael G. Gonçalez, Odair L. Wirth, Gilson |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 31 (2015) nr. 4 pagina's 411-417 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, New York |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |