|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
A Power Efficient BIST TPG Method on Don’t Care Bit Based 2-D Adjusting and Hamming Distance Based 2-D Reordering |
| Auteur: |
Yuan, Haiying Guo, Kun Sun, Xun Mei, Jiaping Song, Hongying |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 31 (2015) nr. 1 pagina's 43-52 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |